정보처리기사 기출문제 부시기 20220424

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2과목 : 소프트웨어 개발 (21번~30번)

21. 통합 테스트(Integration Test)와 관련한 설명으로 틀린 것은?

1. 시스템을 구성하는 모듈의 인터페이스와 결합을 테스트하는 것이다.
2. 하향식 통합 테스트의 경우 넓이 우선(Breadth First)방식으로 테스트를 할 모듈을 선택할 수 있다.
3. 상향식 통합 테스트의 경우 시스템 구조도의 최상위에 있는 모듈을 먼저 구현하고 테스트한다.
4. 모듈 간의 인터페이스와 시스템의 동작이 정상적으로 잘되고 있는지를 빨리 파악하고자 할 때 상향식 보다는 하향식 통합 테스트를 사용하는 것이 좋다.

문제 해설

• 상향식 통합 테스트 (Bottom Up Integration Test)
  • 프로그램의 하위 모듈에서 상위 모듈 방향으로 통합
  • 하나의 주요 제어 모듈과 관련된 종속 모듈의 그룹인 클러스터(Cluster) 필요
• 하향식 통합 테스트 (Top Down Intergration Test)
  • 상위 모듈에서 하위 모듈 방향으로 통합
  • 깊이 우선 통합법, 넓이 우선 통합법 사용
  • 초기부터 사용자에게 시스템 구조를 보여줌
    [해설작성자 : 전자공학도]

내 공부
통합테스트 란?

22. 다음과 같이 레코드가 구성되어 있을 때, 이진 검색 방법으로 14를 찾을 경우 비교되는 횟수는?

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15

1. 2
2. 3
3. 4
4. 5

문제 해설

• 이진 탐색 동작 방식
  1. 배열의 중간 값을 찾음
  2. 중간 값과 검색 값을 비교
     1. 중간 값이 검색 값과 같으면 끝.
     2. 중간 값보다 검색 값이 크다면 오른쪽 구간을 탐색
     3. 중간 값보다 검색 값이 작다면 왼쪽 구간을 탐색
  3. 값을 찾거나 간격이 비었을 때까지 반복

[해설 작성자 : 전자공학도]